Browsing Внеуниверситетские публикации ученых БНТУ by Author "Тявловский, К. Л."

Now showing items 1-10 of 10

    • Измерительный преобразователь прибора контроля параметров жидких технологических сред на базе трансформаторного датчика 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И.; Шумский, А. Э. (Белорусско-Российский университет, 2014)
      Измерительный преобразователь прибора контроля параметров жидких технологических сред на базе трансформаторного датчика / Р. И. Воробей [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : материалы 5-й международной научно-технической конференции, Могилев, 24-25 сентября 2014 г. / гл. ред. И. С. Сазонов. – Могилев: Белорусско-Российский ...
      2020-10-01

    • Измерительный преобразователь систем оптической диагностики с фотоприемником на основе полупроводника с собственной проводимостью 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И. (Белорусско-Российский университет, 2017)
      Рассмотрены вопросы построения измерительных преобразователей систем дистанционной оптической диагностики. Использование одноэлементных многофункциональных фотоприемников на основе собственных полупроводников с глубокими многозарядными примесями позволяет получить ряд новых количественных и качественных характеристик.
      2021-06-28

    • Калибровка волоконно-оптических сенсоров с использованием двухбарьерных фотодетекторов 

      Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (Научтехлитиздат, 2010)
      Рассмотрены вопросы применения двухбарьерных фотодетекторов в схемах калибровки волоконно-оптических сенсоров непосредственно в процессе измерения. Предложены схемы калибровки с использованием широкополосного и двухволнового источников оптического излучения. Рассмотрена модель составляющих погрешности волоконно-оптического сенсора. Применение двухбарьерного фотодетектора в схеме ...
      2016-02-29

    • Методы исследования полимеров на основе зондового картирования электростатического потенциала 

      Пантелеев, К. В.; Кравцевич, А. В.; Ровба, И. А.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Самарина, А. В.; Жарин, А. Л. (ВГТУ, 2017)
      В работе приводятся результаты экспериментальных исследований композитов на основе термопластов по пространственному распределению поверхностного электростатического потенциала.
      2022-08-11

    • Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Самарина, А. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (Белорусско-Российский университет, 2017)
      В статье выполнен сравнительный анализ методов картирования приборных слоев полупроводниковых пластин. Показана перспективность методов на основе регистрации изменений потенциала поверхности зондовым электрометрическим преобразователем в режиме статической либо динамической фотоЭДС, отличающихся полностью неразрушающим характером измерений и позволяющих получить ряд новых ...
      2021-05-14

    • Многопараметрические измерения электрического потенциала поверхности с использованием адаптивной односигнальной модели 

      Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Ананчиков, И. А. (БелГИМ, 2008)
      Рассмотрены вопросы реализации многопараметрических измерений характеристик пространственного распределения электрического потенциала поверхности проводящих объектов с применением адаптивной односигнальной модели. Показана возможность использования одного измерительного канала для одновременного измерения нескольких параметров пространственного распределения электрического ...
      2020-07-30

    • Непрерывный неразрушающий контроль процессов трения методом Кельвина 

      Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л. (ВГТУ, 2018)
      В данной работе с использованием непрерывного неразрушающего контроля трущейся поверхности методом Кельвина экспериментально обнаружены периодические изменения РВЭ трущейся поверхности. Комплексом независимых методов установлено, что периодические изменения РВЭ являются следствием усталостных процессов, протекающих в относительно толстых подповерхностных слоях материалов, т.е. ...
      2023-04-01

    • Неразрушающее выявление малоразмерных дефектов поверхности материалов с использованием бесконтактного сканирующего зонда Кельвина 

      Тявловский, А. К.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И. (ВГТУ, 2019)
      В работе проведены исследования по оценке возможности обнаружения единичных дефектов, включая зоны концентрации механических напряжений, линейные и точечные дефекты поверхности, и погрешности локализации выявляемых дефектов материалов зондом Кельвина заданных геометрических размеров. Выполнены экспериментальные исследования потенциального рельефа диэлектрических образцов с ...
      2020-04-10

    • Неразрушающий контроль изделий с прецизионными поверхностями на основе методов зондовой электрометрии 

      Воробей, Р. И.; Гусев, O. K.; Дубаневич, A. B.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (Институт прикладной физики НАН Беларуси, 2016)
      В настоящей работе рассмотрены принципы контроля прецизионных поверхностей изделий из материалов различной физической природы (металлы, полупроводники, диэлектрики). На основе теоретического анализа и экспериментальных исследований предложено использование принципа многопараметрических измерений применительно к односигнальной измерительной модели. Такой принцип позволяет произвести ...
      2020-09-10

    • Фотоприемники на основе собственных полупроводников для построения измерительных преобразователей 

      Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Шадурская, Л. И. (БелГИМ, 2017)
      Рассмотрены вопросы построения измерительных преобразователей систем дистанционной оптической диагностики с использованием многофункциональных фотоприемников на основе собственных полупроводников. Показана возможность использования одноэлементных фотоприемников для построения измерительных преобразователей с реализацией многопараметрических измерений и измерений в широком ...
      2019-07-09