Now showing items 1-3 of 3

    • Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии 

      Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Самарина, А. В. (Белорусско-Российский университет, 2016)
      В работе приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий зонд Кельвина. Методика контроля основана на анализе неоднородности электропотенциального профиля и пространственного распределения фото-ЭДС.
      2021-04-28
    • Методы исследования полимеров на основе зондового картирования электростатического потенциала 

      Пантелеев, К. В.; Кравцевич, А. В.; Ровба, И. А.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Самарина, А. В.; Жарин, А. Л. (ВГТУ, 2017)
      В работе приводятся результаты экспериментальных исследований композитов на основе термопластов по пространственному распределению поверхностного электростатического потенциала.
      2022-08-11
    • Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Самарина, А. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (Белорусско-Российский университет, 2017)
      В статье выполнен сравнительный анализ методов картирования приборных слоев полупроводниковых пластин. Показана перспективность методов на основе регистрации изменений потенциала поверхности зондовым электрометрическим преобразователем в режиме статической либо динамической фотоЭДС, отличающихся полностью неразрушающим характером измерений и позволяющих получить ряд новых ...
      2021-05-14