Show simple item record

dc.contributor.authorТявловский, А. К.ru
dc.contributor.authorПантелеев, К. В.ru
dc.contributor.authorЖарин, А. Л.ru
dc.contributor.authorГусев, О. К.ru
dc.contributor.authorВоробей, Р. И.ru
dc.contributor.authorТявловский, К. Л.ru
dc.contributor.authorСвистун, А. И.ru
dc.coverage.spatialВитебскru
dc.date.accessioned2020-04-10T09:15:00Z
dc.date.available2020-04-10T09:15:00Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationНеразрушающее выявление малоразмерных дефектов поверхности материалов с использованием бесконтактного сканирующего зонда Кельвина / А. К. Тявловский [и др.] // Международный симпозиум "Перспективные материалы и технологии" : материалы симпозиума, Брест, 27–31 мая 2019 г. / под редакцией В. В. Рубаника. – Витебск : ВГТУ, 2019. – С. 642-644.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/71060
dc.description.abstractВ работе проведены исследования по оценке возможности обнаружения единичных дефектов, включая зоны концентрации механических напряжений, линейные и точечные дефекты поверхности, и погрешности локализации выявляемых дефектов материалов зондом Кельвина заданных геометрических размеров. Выполнены экспериментальные исследования потенциального рельефа диэлектрических образцов с искусственно созданным единичным дефектом.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherВГТУru
dc.titleНеразрушающее выявление малоразмерных дефектов поверхности материалов с использованием бесконтактного сканирующего зонда Кельвинаru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record