Show simple item record

dc.contributor.authorПавлюченко, В. В.ru
dc.contributor.authorДорошевич, Е. С.ru
dc.coverage.spatialМогилевru
dc.date.accessioned2021-07-12T07:47:09Z
dc.date.available2021-07-12T07:47:09Z
dc.date.issued2017ru
dc.identifier.citationПавлюченко, В. В. Расчеты распределений импульсных магнитных полей вторичных источников = Calculations of distributions of impulse magnetic fields of secondary sources / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / Белорусско-Российский университет ; отв. ред. И. С. Сазонов. – Могилев : Белорусско-Российский университет, 2017. – С. 530-536.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/96803en
dc.description.abstractВ статье изложены результаты расчетов пространственных распределений электрического напряжения U(x), снимаемого с преобразователя магнитного поля, при гистерезисной интерференции импульсного магнитного поля (HI). Гистерезисные ветви остаточных магнитных полей магнитного носителя представлены в виде функций арктангенса. Графики рассчитаны с помощью программного языка Delphi. Разработанные методы позволяют повысить точность контроля толщины электропроводящих объектов, неоднородности распределения удельной электропроводности, а также параметров дефектов сплошности.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБелорусско-Российский университетru
dc.titleРасчеты распределений импульсных магнитных полей вторичных источниковru
dc.title.alternativeCalculations of distributions of impulse magnetic fields of secondary sourcesen
dc.typeWorking Paperen
local.description.annotationThe results of calculations of the spatial distributions of the electric voltage U (x), taken from the magnetic field transducer, are presented for the hysteretic interference of the pulsed magnetic field (HI). The hysteretic branches of the residual magnetic fields of the magnetic carrier are represented as arctangent functions. The graphs are calculated using the Delphi programming language. The developed methods make it possible to increase the accuracy of controlling the thickness of electrically conductive objects, the inhomogeneity of the distribution of the specific electric conductivity, and also the parameters of the defects of continuity.en


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record