Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа
![Thumbnail](/bitstream/handle/data/8338/79-81.pdf.jpg?sequence=3&isAllowed=y)
Date
2010Publisher
xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc
543.42:621.378.0Bibliographic entry
Непокойчицкий, А. Г. Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа / А. Г. Непокойчицкий, К. В. Францкевич, С. Г. Асташенко // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). – С. 79 - 81.
Abstract
В настоящей работе исследована возможность определения толщины и разнотолщинности латунного покрытия на металлокорде. С этой целью для получения спектров достаточной интенсивности производится протяжка образцов через плазму электрического разряда в источниках света для спектрального анализа.
View/ Open
Collections
- №3 (56)[29]