Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа

Непокойчицкий, А. Г.; Францкевич, К. В.; Асташенко, С. Г.

Authors

Непокойчицкий, А. Г.

Францкевич, К. В.

Асташенко, С. Г.

Date

2010

Publisher

БНТУ

xmlui.dri2xhtml.METS-1.0.item-identifier-udc

543.42:621.378.0

Bibliographic entry

Непокойчицкий, А. Г. Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа / А. Г. Непокойчицкий, К. В. Францкевич, С. Г. Асташенко // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). – С. 79 - 81.

Abstract

В настоящей работе исследована возможность определения толщины и разнотолщинности латунного покрытия на металлокорде. С этой целью для получения спектров достаточной интенсивности производится протяжка образцов через плазму электрического разряда в источниках света для спектрального анализа.