| dc.contributor.author | Непокойчицкий, А. Г. | ru |
| dc.contributor.author | Францкевич, К. В. | ru |
| dc.contributor.author | Асташенко, С. Г. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2014-06-25T06:08:29Z | |
| dc.date.available | 2014-06-25T06:08:29Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.citation | Непокойчицкий, А. Г. Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа / А. Г. Непокойчицкий, К. В. Францкевич, С. Г. Асташенко // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). – С. 79 - 81. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/8338 | |
| dc.description.abstract | В настоящей работе исследована возможность определения толщины и разнотолщинности латунного покрытия на металлокорде. С этой целью для получения спектров достаточной интенсивности производится протяжка образцов через плазму электрического разряда в источниках света для спектрального анализа. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.subject | Покрытия тонкие | ru |
| dc.subject | Метод атомного эмиссионного спектрального анализа | ru |
| dc.title | Контроль толщины тонких покрытий на протяженных образцах методом атомного эмиссионного спектрального анализа | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udc | 543.42:621.378.0 | ru |
| dc.relation.journal | Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2010. – № 3 (56). | ru |
