Титко, Д. С. Методы контроля оригиналов топологии полупроводниковых приборов на фотошаблонах, основанные на моделировании процессов фотолитографии / Д. С. Титко // Теоретическая и прикладная механика [Электронный ресурс] : международный научно-технический сборник / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: А. В. Чигарев (пред. редкол.). – Минск : БНТУ, 2019. – Вып. 34. – С. 242-248.