На уровне изобретения разработана конструкция термокриокамеры, которая позволяет измерять деформационные характеристики материалов, в частности полимерных, на мерной базе образца при полностью вынесенной измерительной аппаратуре за пределы термокриокамеры. Применение предлагаемой термокриокамеры позволяет повысить точность замера силовых и температурных деформаций в условиях ...