Колешко, В. М. Микро- и наномеханика микросистемной техники / В. М. Колешко, Е. В. Полынкова // Теоретическая и прикладная механика : международный научно-технический сборник. – Вып. 20. – 2006. – С. 17-24.

Разработан эллипсометрический метод контроля качества почвы в режиме реального времени по ее спектральной (цветовой) отражательной способности. Создана мобильная интеллектуальная мультисенсорная система для построения электронных почвенных карт в технологии точного земледелия. Исследовано изменение спектрального коэффициента отражения оптического излучения в зависимости от почвенной ...