Browsing 2017 by Title

Now showing items 38-41 of 41

    • Учет влияния дестабилизирующих факторов для повышения точности измерений дальномера на основе стереоизображений 

      Козлов, В. Л. (БНТУ, 2017)
      Широкое использование цифровой фотосъемки обусловило значительный прогресс в развитии теории и методов восстановления трехмерной картины пространства по двумерным цифровым изображениям. Для решения задачи повышения точности измерений таких систем необходимо учитывать влияние ряда дестабилизирующих факторов. Целью данной работы являлась разработка методики учета и компенсации ...
      2017-09-04

    • Ферромагнитные нанотрубки в порах трековых мембран для элементов гибкой электроники 

      Канюков, Е. Ю.; Шумская, Е. Е.; Кутузов, М. Д.; Боргеков, Д. Б.; Кенжина, И. Е.; Козловский, А. Л.; Здоровец, М. В. (БНТУ, 2017)
      В работе рассмотрены особенности шаблонного синтеза нанотрубок из ферромагнитных металлов (Fe, Co, Ni) в порах трековых мембран. Целью работы являлось изучение их основных структурных и магнитных параметров и демонстрация потенциала применения в элементах гибкой электроники. При помощи электрохимического осаждения в порах полиэтилентерефталатовых трековых мембран сформированы ...
      2017-09-04

    • Физические поля кругового цилиндрического пьезокерамического приемника в присутствии плоского акустически мягкого экрана 

      Дерепа, А. В.; Лейко, А. Г.; Позднякова, О. Н. (БНТУ, 2017)
      Рассмотрена система в виде кругового цилиндрического пьезокерамического преобразователя вблизи плоского акустического экрана. Целью работы являлось решение задачи приема плоских звуковых волн системой «цилиндрический пьезокерамический преобразователь – плоский акустически мягкий экран» с учетом взаимодействия физических полей преобразователя между собой и преобразователя с ...
      2017-06-09

    • Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использованием методов зондовой электрометрии 

      Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Филипеня, В. А.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л. (БНТУ, 2017)
      Анализ микронеоднородностей в системе кремний-двуокись кремния становится наиболее актуальным в связи с переходом микроэлектронной промышленности к субмикронным проектным нормам и уменьшением толщины подзатворного диэлектрика. Целью исследования являлось развитие методов неразрушающего контроля полупроводниковых пластин на основе определения электрофизических свойств границы ...
      2017-12-15