Основы процессов, приводящих к неисправностям электронных устройств

Кудина, А. В.; Франко, Е. П.; Габец, В. Л.

Authors

Кудина, А. В.

Франко, Е. П.

Габец, В. Л.

Date

2025

Publisher

БНТУ

Another Title

Basics of processes leading to malfunctions of electronic devices

Bibliographic entry

Кудина, А. В. Основы процессов, приводящих к неисправностям электронных устройств = Basics of processes leading to malfunctions of electronic devices / А. В. Кудина, Е. П. Франко, В. Л. Габец // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 339-341.

Abstract

Не существует такой техники, которая обладала бы абсолютной надежностью. Всегда будут иметь место различные дефекты и неисправности. Для их ремонта необходимо правильно обнаруживать поломку. Рассмотрены основные причины появления неисправностей, а также способы их диагностики.

Abstract in another language

There is no equipment that possesses absolute reliability. There will always be various defects and malfunctions. To repair them, it is essential to correctly identify the problem. This work examines the main principles of malfunction detection, as well as methods for their diagnosis.