Show simple item record

dc.contributor.authorКудина, А. В.ru
dc.contributor.authorФранко, Е. П.ru
dc.contributor.authorГабец, В. Л.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2026-01-14T07:22:53Z
dc.date.available2026-01-14T07:22:53Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationКудина, А. В. Основы процессов, приводящих к неисправностям электронных устройств = Basics of processes leading to malfunctions of electronic devices / А. В. Кудина, Е. П. Франко, В. Л. Габец // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 339-341.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/162649
dc.description.abstractНе существует такой техники, которая обладала бы абсолютной надежностью. Всегда будут иметь место различные дефекты и неисправности. Для их ремонта необходимо правильно обнаруживать поломку. Рассмотрены основные причины появления неисправностей, а также способы их диагностики.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleОсновы процессов, приводящих к неисправностям электронных устройствru
dc.title.alternativeBasics of processes leading to malfunctions of electronic devicesru
dc.typeWorking Paperru
local.description.annotationThere is no equipment that possesses absolute reliability. There will always be various defects and malfunctions. To repair them, it is essential to correctly identify the problem. This work examines the main principles of malfunction detection, as well as methods for their diagnosis.ru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record