Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем
Another Title
Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems
Bibliographic entry
Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем = Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems / А. В. Кудина, А. А. Васильева, А. Н. Леонович, В. Л. Габец // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 401-402.
Abstract
Современные методы диагностики ИС включают как автоматизированные системы, так и продвинутые технологии, которые обеспечивает создание сложных микросхем с минимальными дефектами.
Abstract in another language
Modern methods of diagnostics of integrated systems include both automated systems and advanced technologies that ensure the creation of complex chips with minimal defects.