Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем
Loading...
Files
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems
Abstract
Современные методы диагностики ИС включают как автоматизированные системы, так и продвинутые технологии, которые обеспечивает создание сложных микросхем с минимальными дефектами.
item.page.description-other
Modern methods of diagnostics of integrated systems include both automated systems and advanced technologies that ensure the creation of complex chips with minimal defects.
Description
Citation
Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем = Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems / А. В. Кудина, А. А. Васильева, А. Н. Леонович, В. Л. Габец // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 401-402.