| dc.contributor.author | Кудина, А. В. | ru |
| dc.contributor.author | Васильева, А. А. | ru |
| dc.contributor.author | Леонович, А. Н. | ru |
| dc.contributor.author | Габец, В. Л. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2025-02-05T12:16:51Z | |
| dc.date.available | 2025-02-05T12:16:51Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.identifier.citation | Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем = Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems / А. В. Кудина, А. А. Васильева, А. Н. Леонович, В. Л. Габец // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 401-402. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/153174 | |
| dc.description.abstract | Современные методы диагностики ИС включают как автоматизированные системы, так и продвинутые технологии, которые обеспечивает создание сложных микросхем с минимальными дефектами. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Интегралполиграф | ru |
| dc.title | Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем | ru |
| dc.title.alternative | Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems | ru |
| dc.type | Article | ru |
| local.description.annotation | Modern methods of diagnostics of integrated systems include both automated systems and advanced technologies that ensure the creation of complex chips with minimal defects. | ru |
