Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе
Another Title
Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air
Bibliographic entry
Багдюн, А. А. Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе = Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 112-113.
Abstract
В работе были проанализированы источники погрешностей средств измерений, используемых для определения размеров наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе. На основании проведенного анализа была сформирована классификационная схема источников погрешностей, позволяющая проводить валидацию метрологических моделей не исключенной систематической погрешности измерений размеров наночастиц.
Abstract in another language
The paper analyzes sources of errors in measuring instruments used to determine the sizes of nanoparticles on a substrate, in liquid, and in air. Based on the analysis, a classification scheme of error sources was formed. This allows validation of metrological models of non-excluded systematic error in measuring the sizes of nanoparticles.