| dc.contributor.author | Багдюн, А. А. | ru |
| dc.contributor.author | Соломахо, В. Л. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2025-02-05T12:15:49Z | |
| dc.date.available | 2025-02-05T12:15:49Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.identifier.citation | Багдюн, А. А. Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе = Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 112-113. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/153028 | |
| dc.description.abstract | В работе были проанализированы источники погрешностей средств измерений, используемых для определения размеров наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе. На основании проведенного анализа была сформирована классификационная схема источников погрешностей, позволяющая проводить валидацию метрологических моделей не исключенной систематической погрешности измерений размеров наночастиц. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Интегралполиграф | ru |
| dc.title | Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе | ru |
| dc.title.alternative | Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air | ru |
| dc.type | Article | ru |
| local.description.annotation | The paper analyzes sources of errors in measuring instruments used to determine the sizes of nanoparticles on a substrate, in liquid, and in air. Based on the analysis, a classification scheme of error sources was formed. This allows validation of metrological models of non-excluded systematic error in measuring the sizes of nanoparticles. | ru |
