Исследование дефектов анодного оксида алюминия методами оптической микроскопии и сканирующей зондовой электрометрии

Authors
Date
2024Publisher
Another Title
Study of anode aluminum oxide defects with optical microscopy and scanning probe electrometry techniques
Bibliographic entry
Исследование дефектов анодного оксида алюминия методами оптической микроскопии и сканирующей зондовой электрометрии = Study of anode aluminum oxide defects with optical microscopy and scanning probe electrometry techniques / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский, К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 50-52.
Abstract
Для исследования дефектности поверхности анодного оксида алюминия применен комплексный подход, включающий анализ пространственного распределения относительных значений работы выхода электрона и поверхностной фото-ЭДС методом сканирующего зонда Кельвина и подробное изучение дефектных областей методом оптической микроскопии. Сканирование поверхности образца электрометрическим зондом с низким пространственным разрешением обеспечивает быстрое предварительное выявление и локализацию областей скопления дефектов, тогда как оптическая микроскопия позволила определить конкретный вид выявленных дефектов.
Abstract in another language
The study of the anodic aluminum oxide surface defectiveness was performed with a comprehensive approach that included an analysis of the spatial distribution of the relative surface work function and surface photo-EMF using the scanning Kelvin probe combined with a detailed study of the defective areas with optical microscopy. Low-resolution scanning of the sample`s surface with an electrometric probe ensures rapid preliminary detection and localization of defective areas while optical microscopy made it possible to determine the specific type of defects found.