Тявловский, К. Л. Физические основы методов испытания приборов на основе полупроводниковых материалов с глубокими центрами / К. Л. Тявловский, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 12-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2014. - С. 187.