Show simple item record

dc.contributor.authorТявловский, К. Л.ru
dc.contributor.authorШадурская, Л. И.ru
dc.contributor.authorЯржембицкая, Н. В.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2015-01-14T06:37:05Z
dc.date.available2015-01-14T06:37:05Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.citationТявловский, К. Л. Физические основы методов испытания приборов на основе полупроводниковых материалов с глубокими центрами / К. Л. Тявловский, Л. И. Шадурская, Н. В. Яржембицкая // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 12-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2014. - С. 187.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/12068
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleФизические основы методов испытания приборов на основе полупроводниковых материалов с глубокими центрамиru
dc.typeWorking Paperru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record