Now showing items 1-9 of 9

    • Выбор металла для фотоприемника Шоттки на основе фосфида галлия 

      Емельяненко, Ю. С.; Маркевич, М. И. (БНТУ, 2010)
      Емельяненко, Ю. С. Выбор металла для фотоприемника Шоттки на основе фосфида галлия / Ю. С. Емельяненко, М. И. Маркевич // Приборостроение-2010 : материалы 3-й Международной научно-технической конференции, 10–12 ноября 2010 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2010. – С. 297-298.
      2026-03-12
    • Исследование фотолюминесценции крупнопористого арсенида галлия со средним размером пор ~1 мкм 

      Новоселов, А. М.; Емельяненко, Ю. С.; Поликанин, А. М. (БНТУ, 2009)
      Новоселов, А. М. Исследование фотолюминесценции крупнопористого арсенида галлия со средним размером пор ~1 мкм / А. М. Новоселов, Ю. С. Емельяненко, А. М. Поликанин // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, ...
      2021-10-05
    • Методика входного контроля транзисторов с затвором Шоттки, изготовленных на n+-n-i- GaAs-структурах 

      Емельяненко, Ю. С.; Новоселов, А. М. (БНТУ, 2012)
      Емельяненко, Ю. С. Методика входного контроля транзисторов с затвором Шоттки, изготовленных на n+-n-i- GaAs-структурах / Ю. С. Емельяненко, А. М. Новоселов // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...
      2021-05-26
    • Методика измерения шероховатости гладких поверхностей на основе анализа отраженного лазерного излучения 

      Попов, Ю. И.; Щербина, А. К.; Емельяненко, Ю. С.; Новоселов, А. М. (БНТУ, 2012)
      Методика измерения шероховатости гладких поверхностей на основе анализа отраженного лазерного излучения / Ю. И. Попов [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 5-й Международной студенческой научно-технической конференции, 18-20 апреля 2012 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2012. – С. 251.
      2022-09-22
    • Об особенностях формирования фотоответа в структурах TiSi2-Si 

      Новоселов, А. М.; Емельяненко, Ю. С.; Маркевич, М. И. (БНТУ, 2011)
      Новоселов, А. М. Об особенностях формирования фотоответа в структурах TiSi2-Si / А. М. Новоселов, Ю. С. Емельяненко, М. И. Маркевич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, ...
      2021-09-28
    • Подготовка научных кадров в КНР 

      Бей, Веньли; Маркевич, М. И.; Емельяненко, Ю. С.; Щербакова, Е. Н.; Чапланов, А. М. (БНТУ, 2009)
      Подготовка научных кадров в КНР / Веньли Бей [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2009. – Т. 2. – С. 356.
      2021-10-05
    • Принципы формирования и свойства фоточувствительных структур на основе силицида переходных металлов 

      Емельяненко, Ю. С.; Колос, В. В.; Маркевич, М. И.; Чапланов, А. М.; Стельмах, В. Ф. (БНТУ, 2011)
      Принципы формирования и свойства фоточувствительных структур на основе силицида переходных металлов / Ю. С. Емельяненко [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, ...
      2021-09-28
    • Фоточувствительность барьеров Шоттки, образованных на дисилициде титана путем осаждения палладия 

      Новоселов, А. М.; Емельяненко, Ю. С.; Колос, В. В.; Маркевич, М. И. (БНТУ, 2008)
      Фоточувствительность барьеров Шоттки, образованных на дисилициде титана путем осаждения палладия / А. М. Новоселов [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Шестой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2008. – ...
      2021-08-30
    • Электрофизические свойства тонких пленок силицидов титана при импульсной фотонной обработке 

      Колос, В. В.; Маркевич, М. И.; Стельмах, В. Ф.; Чапланов, А. М.; Емельяненко, Ю. С. (БНТУ, 2008)
      Электрофизические свойства тонких пленок силицидов титана при импульсной фотонной обработке / В. В. Колос, М. И. Маркевич, В. Ф. Стельмах [и др.] // Приборостроение-2008 : материалы 1-й Международной научно-технической конференции, 12-14 ноября 2008 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2008. – ...
      2026-03-16