Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе
Loading...
Files
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air
Abstract
В работе были проанализированы источники погрешностей средств измерений, используемых для определения размеров наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе. На основании проведенного анализа была сформирована классификационная схема источников погрешностей, позволяющая проводить валидацию метрологических моделей не исключенной систематической погрешности измерений размеров наночастиц.
item.page.description-other
The paper analyzes sources of errors in measuring instruments used to determine the sizes of nanoparticles on a substrate, in liquid, and in air. Based on the analysis, a classification scheme of error sources was formed. This allows validation of metrological models of non-excluded systematic error in measuring the sizes of nanoparticles.
Description
Citation
Багдюн, А. А. Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе = Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо // Приборостроение-2024 : материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : Интегралполиграф, 2024. – С. 112-113.