Browsing Материалы конференции по статьям by Author "Тявловский, К. Л."

Now showing items 1-4 of 4

    • Газоразрядная эпитаксия кремниевых структур 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2020)
      Газоразрядная эпитаксия кремниевых структур / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 101-103.
      2021-02-09

    • Измерительные преобразователи на базе фотоприемников с собственной проводимостью 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Самарина, А. В. (БНТУ, 2020)
      Измерительные преобразователи на базе фотоприемников с собственной проводимостью / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 118-119.
      2021-02-09

    • Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с совмещением процедур калибровки 

      Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Шадурская, Л. И.; Жуковский, П. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2020)
      Измерительные преобразователи систем оптической диагностики с совмещением процедур калибровки / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 111-115.
      2021-02-09

    • Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изделий микроэлектроники 

      Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)
      Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изделий микроэлектроники / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 78-80.
      2021-02-09