Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия
Bibliographic entry
Куренкова, Т. П. Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия / Т. П. Куренкова, В. И. Возная // Литье и металлургия : научно-производственный журнал. – 2012. – № 3 (67). – С. 179 - 183.
Abstract
В данной работе предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне основных
параметров.