Browsing № 2 by Author "Буйницкая, А. С."
Now showing items 1-1 of 1
-
Измерение вертикального рельефа на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы»
Анисович, А. Г.; Буйницкая, А. С. (БНТУ, 2019)Проиллюстрированы возможности измерения глубины рельефа поверхности на металлографических микроскопах производства ОАО «Оптоэлектронные системы». Для микроскопов МИ-1 и МИКРО-200 рассматривается методика определения высоты рельефа, в основу которой положена связь между углом поворота барабана настройки точной фокусировки и вертикальным перемещением предметного столика. Приводятся ...2019-07-08