Browsing Приборостроение by Author "Мухуров, Н. И."
Now showing items 1-12 of 12
-
Анализ визуализированных изображений распределения электрофизических параметров наноструктурированных поверхностей
Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Мухуров, Н. И. (БНТУ, 2016)Анализ визуализированных изображений распределения электрофизических параметров наноструктурированных поверхностей / О. К. Гусев [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 46-48.2017-03-02 -
Исследование газочувствительных слоев In2O3-SnO2 для полупроводниковых сенсоров
Реутская, О. Г.; Денисюк, С. В.; Куданович, О. Н.; Мухуров, Н. И.; Лугин, В. Г.; Таратын, И. А. (БНТУ, 2019)Исследование газочувствительных слоев In2O3-SnO2 для полупроводниковых сенсоров / О. Г. Реутская [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 374-376.2020-01-03 -
Контроль качества оптических металлических поверхностей, обработанных по технологии алмазного наноточения, по распределению работы выхода электрона
Шаронов, Г. В.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Контроль качества оптических металлических поверхностей, обработанных по технологии алмазного наноточения, по распределению работы выхода электрона / Г. В. Шаронов [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – ...2016-10-04 -
Контроль качества отражающих оптических поверхностей высшего класса чистоты методами зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Мухуров, Н. И.; Шаронов, Г. В. (БНТУ, 2017)Контроль качества отражающих оптических поверхностей высшего класса чистоты методами зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : БНТУ, 2017. - С. 81-83.2018-02-01 -
Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрических материалов
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Мухуров, Н. И.; Опеляк, М. (БНТУ, 2018)Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрических материалов / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 86-87.2019-04-17 -
Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распределения РВЭ
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2014)В результате проведенных исследований разработаны технические требования к методике сплошного неразрушающего контроля электро-физических свойств чувствительных элементов из наноструктурированных материалов для нового поколения датчиков потока космической плазмы.2015-03-16 -
Методы автоматического определения и стабилизации величины зазора зонд-образец в измерительной системе на основе зонда Кельвина
Петлицкий, Н. Н.; Мухуров, Н. И. (БНТУ, 2021)Определение величины зазора зонд-образец в измерительной системе на основе зонда Кельвина может осуществляться оптическими методами с использованием независимого волоконно-оптического датчика либо электрическими методами на основе анализа особенностей самого измерительного сигнала. Основным преимуществом электрических методов контроля зазора зонд-образец является независимость ...2022-02-02 -
Микропроцессорный измерительный преобразователь электростатических потенциалов для контроля микроструктуры сеточного полотна
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Мухуров, Н. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2015)Микропроцессорный измерительный преобразователь электростатических потенциалов для контроля микроструктуры сеточного полотна / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. ...2016-10-04 -
Мультиспектральный детектор микрочастиц газовой/воздушной среды
Мухуров, Н. И.; Ходин, А. А. (БНТУ, 2021)Представлен анализ основных параметров микрочастиц воздушной среды и их влияния на здоровье человека. Рассмотрены методы сепарации и детектирования переносимых воздухом/газом твердых микрочастиц с помощью оптических и фотоэлектрических элементов. Представлен прототип мультиспектрального детектора микрочастиц на основе алюмооксидной технологии для создания компактного Lab-on-chip сенсора.2022-02-02 -
Неразрушающий контроль дефектов пористого анодного оксида алюминия методами зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Мухуров, Н. И.; Микитевич, В. А. (БНТУ, 2019)Неразрушающий контроль дефектов пористого анодного оксида алюминия методами зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 71-73.2020-01-03 -
Особенности формирования слоев in2o3 для высокочувствительных газовых сенсоров
Реутская, О. Г.; Денисюк, С. В.; Куданович, О. Н.; Мухуров, Н. И.; Лугин, В. Г.; Таратын, И. А. (БНТУ, 2020)Реутская, О. Г. Особенности формирования слоев in2o3 для высокочувствительных газовых сенсоров / О. Г. Реутская [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 266-267.2021-02-09 -
Сопоставление цифровых и аналоговых методов зондовой электрометрии при исследовании электрофизических свойств поверхности покрытий из пористого анодного оксида алюминия
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Шаронов, Г. В.; Мухуров, Н. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Микитевич, В. А. (БНТУ, 2020)Сопоставление цифровых и аналоговых методов зондовой электрометрии при исследовании электрофизических свойств поверхности покрытий из пористого анодного оксида алюминия / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. ...2021-02-09