Browsing Приборостроение by Author "Жарин, А. Л."
Now showing items 21-40 of 50
-
Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрических материалов
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Мухуров, Н. И.; Опеляк, М. (БНТУ, 2018)Математическая модель измерений пространственного распределения потенциала поверхности диэлектрических материалов / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 86-87.2019-04-17 -
Математическое моделирование взаимодействия электрометрического зонда с неоднородно заряженной поверхностью диэлектрика
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Дубаневич, А. В.; Жуковский, П. (БНТУ, 2016)Математическое моделирование взаимодействия электрометрического зонда с неоднородно заряженной поверхностью диэлектрика / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 393-395.2017-04-04 -
Метод исследования скорости стекания заряда наэлектризованных материалов
Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Самарина, А. В.; Опеляк, М.; Ардашев, Д. (БНТУ, 2019)Метод исследования скорости стекания заряда наэлектризованных материалов / К. В. Пантелеев [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 127-129.2020-01-03 -
Методика неразрушающего контроля качества наноструктурированных покрытий на основе анализа распределения РВЭ
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Мухуров, Н. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2014)В результате проведенных исследований разработаны технические требования к методике сплошного неразрушающего контроля электро-физических свойств чувствительных элементов из наноструктурированных материалов для нового поколения датчиков потока космической плазмы.2015-03-16 -
Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-диэлектрик средствами зондовой электрометрии
Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И. (БНТУ, 2014)Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-диэлектрик средствами зондовой электрометрии / Р. И. Воробей [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 56-58.2015-03-16 -
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин
Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводниковых пластин / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 12-14.2017-02-28 -
Методы цифровой фильтрации в обработке сигналов зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Поведайко, А. Д.; Жарин, А. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Колтунович, Т.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)Методы цифровой фильтрации в обработке сигналов зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 92-94.2021-02-09 -
Миграция поверхностного электростатического заряда полиэтилена после деформирования
Борбат, М. С.; Самарина, А. В.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Гусев, О.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2023)В работе на примере полиэтилена высокого давления рассмотрены некоторые эффекты миграции (перераспределения) поверхностного электростатического потенциала в диэлектрическом материале под действием механических напряжений и при релаксации. В качестве метода и средств исследования изменения распределения поверхностного электростатического потенциала под действием механических ...2023-12-21 -
Микропроцессорный измерительный преобразователь электростатических потенциалов для контроля микроструктуры сеточного полотна
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, К. Л.; Мухуров, Н. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2015)Микропроцессорный измерительный преобразователь электростатических потенциалов для контроля микроструктуры сеточного полотна / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2015 : материалы 8-й международной научно-технической конференции, Минск, 25-27 ноября 2015 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2015. – Т. 1. ...2016-10-04 -
Моделирование зависимости измерительного сигнала от потенциала компенсации в методе Кельвина–Зисмана
Пантелеев, К. В.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Пантелеев, К. В. Моделирование зависимости измерительного сигнала от потенциала компенсации в методе Кельвина–Зисмана / К. В. Пантелеев, А. И. Свистун, А. Л. Жарин // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С.106-108.2017-03-10 -
Неразрушающий контроль дефектов пористого анодного оксида алюминия методами зондовой электрометрии
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Свистун, А. И.; Мухуров, Н. И.; Микитевич, В. А. (БНТУ, 2019)Неразрушающий контроль дефектов пористого анодного оксида алюминия методами зондовой электрометрии / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2019 : материалы 12-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2019 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2019. – С. 71-73.2020-01-03 -
О возможности использования методов сканирующей зондовой электрометрии для определения типа дефектов поверхности металлов
Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Качан, Р. Ф.; Дубаневич, А. В.; Колтунович, Т. (БНТУ, 2016)О возможности использования методов сканирующей зондовой электрометрии для определения типа дефектов поверхности металлов / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 312-313.2017-03-27 -
Определение фазового сдвига на основе методов цифровой обработки сигналов
Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Колтунович, Т. (БНТУ, 2018)Определение фазового сдвига на основе методов цифровой обработки сигналов / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2018 : материалы 11-й Международной научно-технической конференции, 14-16 ноября 2018 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2018. – С. 97-99.2019-04-17 -
Оснащение умной аудитории
Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Микитевич, В. А.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2021)Рассмотрен пример оснащения учебной аудитории программными и аппаратными средствами с целью повышения эффективности образовательного процесса и формирования новых функциональных возможностей. Использование цифровых технологий в оснащении умных аудиторий обеспечивает непрерывность образовательного процесса и организацию дистанционного обучения, интеграцию образовательного процесса ...2022-02-02 -
Применение метода контактной разности потенциалов для исследования биохимических процессов in vivo
Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Цедик, Л. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2014)Применение метода контактной разности потенциалов для исследования биохимических процессов in vivo / О. К. Гусев [и др.] // Приборостроение-2014 : материалы 7-й Международной научно-технической конференции (19–21 ноября 2014 года, Минск, Республика Беларусь) / ред. колл.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2014. – С. 71-73.2015-03-16 -
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изделий микроэлектроники
Жарин, А. Л.; Петлицкий, А. Н.; Пилипенко, В. А.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2020)Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изделий микроэлектроники / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 78-80.2021-02-09 -
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверхностной фотоЭДС
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2016)Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверхностной фотоЭДС / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 52-53.2017-03-06 -
Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контроля полупроводниковых пластин
Жарин, А. Л.; Гусев, О. К.; Воробей, Р. И.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Пилипенко, В. А.; Петлицкий, А. Н. (БНТУ, 2017)Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контроля полупроводниковых пластин / А. Л. Жарин [и др.] // Приборостроение - 2017 : материалы 10-й Международной научно-технической конференции, 1-3 ноября 2017 года, Минск, Республика Беларусь / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. - Минск : ...2018-02-01 -
Реализация цифрового электрометрического преобразователя на базе отладочного комплекта ARDUINO
Тявловский, А. К.; Поведайко, А. Д.; Пантелеев, К. В.; Жарин, А. Л.; Свистун, А. И.; Гусев, О. К. (БНТУ, 2020)Тявловский, А. К. Реализация цифрового электрометрического преобразователя на базе отладочного комплекта ARDUINO / А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2020 : материалы 13-й Международной научно-технической конференции, 18–20 ноября 2020 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2020. – С. 69-70.2021-02-09 -
Синусоидальная модуляция светового излучения при измерении поверхностной фото-ЭДС
Микитевич, В. А.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2022)При измерении поверхностной фото-ЭДС важно значение оказывает форма модуляции светового излучения. При использовании прямоугольной модуляции усложняется обработка выходного сигнала и появляется погрешность измерения. Синусоидальная модуляция позволяет упростить обработку выходного сигнала.2022-12-28