Применение спектроскопии комбинационного рассеяния света для анализа напряжений в полупроводниковых структурах
Bibliographic entry
Андрияш А.С. Применение спектроскопии комбинационного рассеяния света для анализа напряжений в полупроводниковых структурах / А. С. Андрияш, А. И. Кипарин, Н. В. Кулешов // Новые направления развития приборостроения : материалы 9-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20–22 апреля 2016 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – Т. 2. - С. 17-18.