Применение форсированных режимов для ускоренной оценки надежности светоизлучающих диодов
Bibliographic entry
Манего, С. А. Применение форсированных режимов для ускоренной оценки надежности светоизлучающих диодов / С. А. Манего // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 3. - С. 477.