Show simple item record

dc.contributor.authorТявловский, А. К.ru
dc.contributor.authorЖарин, А. Л.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date2011ru
dc.date.accessioned2012-03-28T07:36:15Z
dc.date.available2012-03-28T07:36:15Z
dc.date.issued2011
dc.identifier.citationТявловский, А. К. Анализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсации / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф.А. ; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь ; кол. авт. Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2011. – №2(3). – С.136–144.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/1910
dc.description.abstractПроведен сравнительный анализ динамических зондовых методов измерения поверхностного потенциала. Показано, что для бесконтактных измерений поверхностного потенциала диэлектриков в широком диапазоне значений оптимальным является использование схемы с токовой компенсацией. Преимуществами данной схемы являются высокое пространственное разрешение, широкий диапазон измерений поверхностного потенциала, независимость измерительного сигнала от расстояния между зондом и исследуемой поверхностью в пределах определенного диапазона расстояний. Проанализированы метрологические характеристики предлагаемой схемы и получена расчетная формула для определения предела приведенной методической погрешности измерения.(E-mail: andrey_psf@tut.by)ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleАнализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсацииru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udc621.317.321:620.181.4ru
dc.relation.journalПриборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal. - 2011. - №2(3). – С.136–144.ru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record