| dc.contributor.author | Чижик, С. А. | ru |
| dc.contributor.author | Сыроежкин, С. В. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date | 2010 | ru |
| dc.date.accessioned | 2012-03-23T12:04:23Z | |
| dc.date.available | 2012-03-23T12:04:23Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.citation | Чижик, С. А. Методы сканирующей зондовой микроскопии в микро- и наномеханике / С. А. Чижик, С. В. Сыроежкин // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф.А. ; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь ; кол. авт. Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2010. – №1. – С.85–94. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/1852 | |
| dc.description.abstract | В работе представлены методы оценки локальных физико-механических свойств
материалов в наномасштабе, реализованных на базе сканирующего зондового микроскопа: картографические поверхности с помощью изображений контраста; статическая и динамическая силовая спектроскопия, процедуры наноизнашивания, осциллирующая микротрибология. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Методы сканирующей зондовой микроскопии в микро- и наномеханике | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.relation.journal | Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal. - 2010. - №1. – С.85–94. | ru |
