Now showing items 1-4 of 4

    • Влияние электроконтактной обработки поверхности образцов металлических имплантатов на свободную энергию 

      Киселев, М. Г.; Тявловский, А. К.; Монич, С. Г. (Томский политехнический университет, 2014)
      Одним из условий эффективного протекания процесса интеграции имплантата в организме человека является обеспечение оптимальных параметров микрорельефа его поверхности. В настоящее время эта задача технологически решается, как правило, за счет модификации поверхности металлического имплантата путем ее пескоструйной или дробеструйной обработки. В этом плане значительно большими ...
      2015-02-18
    • Выбор базовой подложки для изучения взаимодействия в системе клетка-поверхность методом измерения контактной разности потенциалов 

      Тявловский, А. К.; Цедик, Л. В.; Жарин, А. Л.; Антоневич, Н. Г. (Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева, 2015)
      Исследована возможность изучения взаимодействия в системе поверхность-клетка на примере культуры клеток амниона человека и базовых пластиковых и стеклянных подложек с применением установки для измерения пространственного распределения контактной разности потенциалов (КРП). Показано, что использование базовой стеклянной подложки обеспечивает возможность сканирования КРП в динамическом ...
      2017-10-25
    • Калибровка волоконно-оптических сенсоров с использованием двухбарьерных фотодетекторов 

      Тявловский, К. Л.; Тявловский, А. К.; Воробей, Р. И.; Свистун, А. И.; Шадурская, Л. И.; Яржембицкая, Н. В. (Научтехлитиздат, 2010)
      Рассмотрены вопросы применения двухбарьерных фотодетекторов в схемах калибровки волоконно-оптических сенсоров непосредственно в процессе измерения. Предложены схемы калибровки с использованием широкополосного и двухволнового источников оптического излучения. Рассмотрена модель составляющих погрешности волоконно-оптического сенсора. Применение двухбарьерного фотодетектора в схеме ...
      2016-02-29
    • Применение методов зондовой электрометрии для неразрушающего контроля поверхностей после высокоэнергетического воздействия 

      Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Пантелеев, К. В. (Фазлыйяхматов Марсель Галимзянович, 2015)
      В основу неразрушающего контроля поверхностей после высокоэнергетического воздействия методами зондовой электрометрии положена регистрация вызванных воздействием изменений работы выхода электрона и ее пространственного распределения. Измерения выполняются на основе метода сканирующего зонда Кельвина с последующей визуализацией результатов сканирования и их статистической обработкой. ...
      2019-08-30