Особенности измерения микропрочностных свойств полупроводниковых материалов методом микроиндентирования
| dc.contributor.author | Вабищевич, Н. В. | ru |
| dc.contributor.author | Бринкевич, Д. И. | ru |
| dc.contributor.author | Вабищевич, С. А. | ru |
| dc.contributor.author | Просолович, В. С. | ru |
| dc.contributor.author | Простомолотов, А. И. | ru |
| dc.contributor.author | Черный, В. В. | ru |
| dc.contributor.author | Янковский, Ю. Н. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date.accessioned | 2026-03-11T07:55:05Z | |
| dc.date.available | 2026-03-11T07:55:05Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | Особенности измерения микропрочностных свойств полупроводниковых материалов методом микроиндентирования / Н. В. Вабищевич, Д. И. Бринкевич, С. А. Вабищевич [и др.] // Приборостроение-2012 : материалы 5-й Международной научно-технической конференции, 21–23 ноября 2012 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2012. – С. 140-141. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/164566 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Особенности измерения микропрочностных свойств полупроводниковых материалов методом микроиндентирования | ru |
| dc.type | Working Paper | ru |
