Анализ качества подзатворного диэлектрика по выходным характеристикам П-МОП транзистора / В. Б. Оджаев, А. Н. Петлицкий, В. С. Просолович [и др.] // Приборостроение-2012 : материалы 5-й Международной научно-технической конференции, 21–23 ноября 2012 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2012. – С. 346-348.