Процедура измерения при использовании мультипапраметических сенсоров
Loading...
Files
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Multi-parametric sensors-based measurement procedure
Abstract
Сенсоры на основе полупроводников с собственной фотопроводимостью, слабо легированных глубокими примесями, формирующими несколько уровней с разными зарядовыми состояниями в запрещенной зоне, могут использоваться при решении многих задач оптической диагностики. Особенности физических процессов работы таких сенсоров позволяют создавать фотоприемники с различными функциональными возможностями. Представлена новая процедура измерения, реализующая ряд особенностей свойств и преобразовательных характеристик таких сенсоров.
item.page.description-other
Sensors based on semiconductors with intrinsic photoconductivity slightly doped with deep impurities which for several levels with different charge states could be used to solve many tasks of optical diagnostics. Peculiarities of physical processes of the operation of such sensors make it possible to create photodetectors with different functionality. A new measurement procedure is proposed which utilizes several features of physical properties and characteristic curves of such sensors.
Description
Citation
Процедура измерения при использовании мультипапраметических сенсоров = Multi-parametric sensors-based measurement procedure / Р. И. Воробей, О. К. Гусев, А. К. Тявловский [и др.] // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 91-93.