Show simple item record

dc.contributor.authorБорздов, А. В.ru
dc.contributor.authorБорздов, В. М.ru
dc.contributor.authorБуйновский, Д. Н.ru
dc.coverage.spatialМинскru
dc.date.accessioned2026-01-14T07:22:47Z
dc.date.available2026-01-14T07:22:47Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationБорздов, А. В. Моделирование электрических характеристик субмикронного кремниевого лавинного фотодиода = Simulation of electrical characteristics of a submicron silicon avalanche photodiode / А. В. Борздов, В. М. Борздов, Д. Н. Буйновский // Приборостроение-2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13–15 ноября 2025 года Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (пред.), О. К. Гусев, Р. И. Воробей [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 310-312.ru
dc.identifier.urihttps://rep.bntu.by/handle/data/162631
dc.description.abstractС помощью многочастичного метода Монте-Карло проведено моделирование тока в кремниевом лавинном фотодиоде со структурой p+–i–p–n+, работающем в режиме обратного смещения при воздействии пикосекундных импульсов лазерного излучения с длиной волны 650 нм. Рассмотрены диодные структуры с различной толщиной и различными уровнями легирования рабочих областей.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherБНТУru
dc.titleМоделирование электрических характеристик субмикронного кремниевого лавинного фотодиодаru
dc.title.alternativeSimulation of electrical characteristics of a submicron silicon avalanche photodioderu
dc.typeWorking Paperru
local.description.annotationUsing the ensemble Monte Carlo method, we simulated the current in a silicon avalanche photodiode with a p+–i–p–n+ structure operating in reverse-bias mode under the influence of picosecond pulses of laser radiation with a wavelength of 650 nm. Diode structures with different thicknesses and doping levels of the device's operating regions were considered.ru


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record