Метрологическое обеспечение измерений толщины покрытий с помощью микроинтерферометра / И. В. Седельник [и др.] // Новые направления развития приборостроения : материалы 6-й Международной студенческой научно-технической конференции, 24-26 апреля 2013 г. / редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск : БНТУ, 2013. – С. 352.