Browsing Наука – образованию, производству, экономике by Author "Жарин, А. Л."
Now showing items 1-16 of 16
-
Алгоритмическое обеспечение исследования свойств поверхности функциональных материалов зарядочувствительными методами
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2014)Жарин, А. Л. Алгоритмическое обеспечение исследования свойств поверхности функциональных материалов зарядочувствительными методами / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 12-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2014. - С. 186.2015-01-14 -
Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2015)Жарин, А. Л. Аппаратно-программный комплекс для неразрушающего контроля скрытых дефектов диэлектриков методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 174.2016-03-04 -
Бесконтактная регистрация пространственного распределения и динамики изменения во времени электрического потенциала поверхности диэлектрических материалов
Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В. (БНТУ, 2017)Жарин, А. Л. Бесконтактная регистрация пространственного распределения и динамики изменения во времени электрического потенциала поверхности диэлектрических материалов / А. Л. Жарин, К. В. Пантелеев // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 226.2018-04-03 -
Влияние режимов ионной имплантации азота N на работу выхода электрона с поверхности стальных образцов
Белый, А. В.; Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2011)Белый, А. В. Влияние режимов ионной имплантации азота N на работу выхода электрона с поверхности стальных образцов / А. В. Белый, А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-06-04 -
Зондовая электрометрическая диагностика в контроле прецизионных поверхностей функциональных материалов
Жарин, А. Л. (БНТУ, 2016)Жарин, А. Л. Зондовая электрометрическая диагностика в контроле прецизионных поверхностей функциональных материалов / А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 207.2017-04-03 -
Ионизационный метод измерения контактной разности потенциалов
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Ананчиков, И. А. (БНТУ, 2009)Жарин, А. Л. Ионизационный метод измерения контактной разности потенциалов / А. Л. Жарин [и др.] // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, 2009. – Т. 1. – С. 412.2021-09-30 -
Контроль гомогенности модифицированных поверхностей с помощью зарядочувствительного измерительного преобразователя
Дубаневич, А. В.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2013)Дубаневич, А. В. Контроль гомогенности модифицированных поверхностей с помощью зарядочувствительного измерительного преобразователя / А. В. Дубаневич, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 11-й Международной научно-технической конференции. Т. 2. - Минск : БНТУ, 2013. - С. 187.2015-08-21 -
Контроль качества исходных подложек, микроструктур и микросенсоров на основе визуализации поверхностного потенциала
Жарин, А. Л.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2015)Жарин, А. Л. Контроль качества исходных подложек, микроструктур и микросенсоров на основе визуализации поверхностного потенциала / А. Л. Жарин, А. В. Дубаневич // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 13-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2015. - Т. 2. - С. 177.2016-03-04 -
Контроль физических параметров приповерхностных слоев полупроводниковых пластин методом фотостимулированной з ондовой электрометрии
Жарин, А. Л. (БНТУ, 2018)Жарин, А. Л. Контроль физических параметров приповерхностных слоев полупроводниковых пластин методом фотостимулированной з ондовой электрометрии/ А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 166.2019-04-26 -
Математическое моделирование взаимодействия средств контроля электрофизических параметров с наноразмерными дефектами поверхности
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2017)Тявловский, А. К. Математическое моделирование взаимодействия средств контроля электрофизических параметров с наноразмерными дефектами поверхности / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 15-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2017. - Т. 2. - С. 225.2018-04-03 -
Метрологическая модель системы измерения работы выхода электрона поверхности методом невибрирующего зонда Кельвина
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2011)Жарин, А. Л. Метрологическая модель системы измерения работы выхода электрона поверхности методом невибрирующего зонда Кельвина / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Девятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-06-04 -
Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2016)Жарин, А. Л. Принципы экспрессного контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей методами зондовой электрометрии / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 209.2017-04-03 -
Сопряжение контроллера трехкоординатного перемещения сканирующей измерительной установки с персональным компьютером
Жарин, А. Л.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2012)Жарин, А. Л. Сопряжение контроллера трехкоординатного перемещения сканирующей измерительной установки с персональным компьютером / А. Л. Жарин, А. В. Дубаневич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. ...2021-05-20 -
Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами
Тявловский, А. К.; Жарин, А. Л. (БНТУ, 2018)Тявловский, А. К. Средства регистрации электрофизических параметров макроскопических поверхностей с наноразмерными дефектами / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 2. - С. 176.2019-04-26 -
Установка для измерения контактной разности потенциалов методом невибрирующего зонда
Жарин, А. Л.; Тявловский, А. К. (БНТУ, 2009)Жарин, А. Л. Установка для измерения контактной разности потенциалов методом невибрирующего зонда / А. Л. Жарин, А. К. Тявловский // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Седьмой международной научно-технической конференции : в 3 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, ...2021-09-30 -
Установка для исследовательских испытаний чувствительных элементов измерительных преобразователей электрического потенциала
Жарин, А. Л.; Дубаневич, А. В. (БНТУ, 2012)Жарин, А. Л. Установка для исследовательских испытаний чувствительных элементов измерительных преобразователей электрического потенциала / А. Л. Жарин, А. В. Дубаневич // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Десятой международной научно-технической конференции : в 4 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, ...2021-05-20