Контроль свойств металлических объектов в прошедшей и отраженной электромагнитной волне
Bibliographic entry
Павлюченко, В. В. Контроль свойств металлических объектов в прошедшей и отраженной электромагнитной волне / В. В. Павлюченко, Е. С. Дорошевич, Г. Л. Зыков // Инновационные технологии в водном, коммунальном хозяйстве и водном транспорте [Электронный ресурс] : материалы II республиканской научно-технической конференции, 28-29 апреля 2022 г. / редкол.: С. В. Харитончик [и др.]. – Минск : БНТУ, 2022. – С. 409-414.
Abstract
Представлены расчетные зависимости U(x) электрического напряжения от координаты x на выходе магнитной головки, сканирующей магнитный носитель (МН) с записями магнитных полей, отраженных от одиночных пластин из алюминия толщиной 0,10 мм и 0,11 мм, а также полей, прошедших через эти пластины, находящиеся с зазором в составе массивного объекта. На МН воздействовали серией из четырех импульсов магнитного поля линейного индуктора. Полученные результаты позволяют повысить чувствительность и точность контроля толщины объекта, удельной электропроводности его материала и дефектов в нем.