Приборостроение-2021: Recent submissions
Now showing items 101-120 of 231
-
Способ формирования геттерирующего скрытого слоя
(БНТУ, 2021)Рассмотрен способ формирования геттерирующего слоя в составе транзисторной структуры интегральной схемы. Для введения вольфрама в качестве геттерирующей примеси предлагается использовать метод газоразрядного легирования в режиме тлеющего разряда или интенсификацию процесса методом лазерного распыления материала мишени.2022-02-02 -
Экспериментальное исследование резонаторов для излучателя на основе кристалла Nd:YAG с диодной накачкой
(БНТУ, 2021)Проведено сравнение результатов экспериментального моделирования выходных параметров для нескольких вариантов резонаторов лазерного излучателя на основе кристалла Nd:YAG с диодной накачкой для применения в системах измерения дальности. Разработан компактный квантрон. Проведен расчет его профиля распределения и эффективности накачки для различных рабочих температур. В результате ...2022-02-02 -
Фазовая структура фотонных наноструй в дифракционных волновых полях изолированных диэлектрических частиц
(БНТУ, 2021)Получены численные решения строго поставленной двумерной задачи дифракции волнового поля на диэлектрическом стержне квадратного сечения. На их основе сформулированы условия образования фотонных наноструй в ближней зоне дифракционного волнового поля. Исследованы зависимости амплитудных и фазовых характеристик фотонных наноструй от структуры экспонирующего поля.2022-02-02 -
Кристаллы Yb:KY(WO4)2 с высоким содержанием ионов иттербия: рост и спектрально-кинетические свойства
(БНТУ, 2021)Рассмотрены особенности роста кристаллов двойных вольфраматов с высоким содержанием трехвалентных ионов иттербия. Исследована зависимость времени жизни возбужденного состояния 2F5/2 ионов Yb3+ в зависимости от содержания активных центров в кристалле с учетом эффектов перепоглощения.2022-02-02 -
Математическое моделирование процесса формообразования плоского инструмента для обработки конических поверхностей
(БНТУ, 2021)Рассмотрена кинематика относительного движения инструмента и правильника без осцилляции верхнего звена, при этом скольжение сопряженных поверхностей имеет место благодаря вращению инструмента и правильника, установленных с определенным эксцентриситетом. Получено выражение для определения скорости скольжения в любой точке контакта сопряженных поверхностей.2022-02-02 -
Экспериментальная установка для сложения лазерных пучков в кольцевой волоконно-оптической линии задержки
(БНТУ, 2021)Поднимается проблема повышения энергетических характеристик автономных лазерных систем без увеличения потребляемой ими энергии питания. Рассматривается возможность решения этой проблемы путем синхронного сложения пучков от одиночного лазерного источника. Описываются структура и принцип действия экспериментальной установки, предназначенной для исследования синхронного сложения ...2022-02-02 -
Фотоприемник с переключаемой характеристикой спектральной чувствительности
(БНТУ, 2021)Полупроводниковые приборные структуры с глубокой многозарядной примесью позволяют создавать фотоприемники для систем оптической диагностики с переключаемым видом спектральной характеристики чувствительности. Реализуемая спектральная характеристика чувствительности определяется заселенностью энергетических уровней многозарядной примеси. Набор спектральных характеристик, между ...2022-02-02 -
Программный комплекс для моделирования рентгенооптических систем
(БНТУ, 2021)Разработана структурная схема программного комплекса для моделирования рентгенооптических систем, в приближении геометрической оптики методом Монте-Карло. Основная идея заключается в создании отдельных вычислительных модулей, взаимодействующих между собой по средствам файлов данных рентгеновских лучей. Применение данного программного комплекса позволяет задействовать вычислительные ...2022-02-02 -
Рост и спектроскопические свойства кристаллов Cr3+:BeAl2O4
(БНТУ, 2021)Исследован процесс роста кристаллов александрита Cr3+:BeAl2O4 с различной концентрацией трехвалентных ионов хрома. Измерены спектры поглощения образцов кристалла для состояния поляризаций излучения параллельных кристаллографическим осям b и с.2022-02-02 -
Прибор для контроля точности склейки линз
(БНТУ, 2021)В работе приводятся результаты разработки универсального автоколлимационного прибора для контроля погрешностей центрирования оптических систем на базе СТ-41.2022-02-02 -
Измерение волнового фронта излучения лазеров
(БНТУ, 2021)Рассмотрены методы измерения волнового фронта и измерительная установка для контроля формы волнового фронта в поперечном сечении лазерного пучка. Приводятся методы реконструкции волнового фронта и результаты исследования метрологических характеристик установки.2022-02-02 -
Моделирование рабочей зоны оборудования для обработки конических поверхностей
(БНТУ, 2021)Предложена схема разбиения притирающихся поверхностей плоского инструмента и детали на кольцевые зоны и сектора, в результате чего образуются элементарные площадки с опорными (расчетными) точками в их центре, для расчета координат которых получены аналитические выражения.2022-02-02 -
Определение преимуществ применения коротковолнового инфракрасного канала технического зрения
(БНТУ, 2021)В докладе определены преимущества КВИК-диапазона технического зрения для его применения в составе оптико-электронных систем, осуществляющих обзор местности и объектов.2022-02-02 -
Измерение мощности лазерного излучения, отраженного от ламбертова круглого отражателя
(БНТУ, 2021)Представлена теоретическая модель для расчета мощности лазерного излучения, принятой после отражения гауссова пучка от круглого ламбертова отражателя. Экспериментально получены мощности лазерного излучения, отраженного от пластиковых (поливинилхлорид) дисков различного радиуса, в зависимости от дистанции от фотоприемника до объекта. Установлено соответствие теоретической модели ...2022-02-02 -
Управление плотностью мощности лазерного излучения при двухимпульсной лазерной абляции металлов
(БНТУ, 2021)Разработан метод управления плотностью мощности лазерного излучения при двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии металлов, позволяющих проводить послойный анализ функциональных и защитных покрытий с субмикронным разрешением слоя. Данный метод основывается на расфокусировке лазерного луча относительно поверхности образца, при этом за счет увеличения площади лазерной ...2022-02-02 -
Высокоточные методы и средства измерений плотности потока энергии электромагнитного поля в микроволновом диапазоне и создание эталона на их основе
(БНТУ, 2021)В работе приводятся результаты разработки и применения методов и средств измерения плотности потока энергии электромагнитного поля в микроволновом диапазоне и создания эталона на их основе.2022-02-02 -
Лазер на кристалле Pr:YLF при накачке InGaN лазерным диодом
(БНТУ, 2021)На основе абсорбционно-люминесцентных свойств кристалла литий-иттриевого фторида, активированного ионами празеодима, определны требования к InGaN лазерным диодам, рассчитаны система фокусировки и резонатор Pr:YLF лазера, генерирующего на переходе 3Р1 → 3Н5. Выходная мощность лазерного излучения составила 0,5 Вт.2022-02-02 -
Исследование механизмов возбуждения спектральных линий в абляционной плазме с помощью двухимпульсного спектрометра
(БНТУ, 2021)С помощью разработанного на кафедре лазерной физики и спектроскопии БГУ двухимпульсного лазерного спектрометра ЛАЭМС исследовано изменение механизма заселения возбужденных уровней при переходе от одноимпульсной к двухимпульсной лазерной абляции металлов и сплавов, приводящем к предпочтительному возбуждению других уровней, изменению в распределении заселенностей возбужденных ...2022-02-02 -
Исследование показаний термопары при разных величинах температуры термоэлектродов
(БНТУ, 2021)Изложена методика и приведены результаты экспериментов по определению температуры медной ленты при прокатке с помощью естественной термопары. Приведена схема экспериментального оборудования.2022-02-02 -
Эталонный светодиодный источник излучения для калибровки радиометров в ультрафиолетовом диапазоне CIE C
(БНТУ, 2021)Разработан компактный эталонный источник излучения УФ С на основе светодиода для калибровки УФ-радиометров. Источник обеспечивает плотность мощности излучения до 400 мкВт/см2 на площади 3×3 мм с неоднородностью 1,5 %. Излучение источника с максимумом 265 нм сконцентрировано на 97 % в УФ С области спектра. Использование источника для лазерных диодов ComboSource 6310 позволило ...2022-02-02



















