Browsing by Author "Сякерский, В. С."
Now showing items 1-3 of 3
-
Атомно-силовой микроскоп как средство контроля топологических размеров субмикронных интегральных схем
Пилипенко, В. А.; Чижик, С. А.; Сякерский, В. С.; Петлицкая, Т. В.; Кузнецова, Т. А. (БНТУ, 2008)Атомно-силовой микроскоп как средство контроля топологических размеров субмикронных интегральных схем / В. А. Пилипенко, С. А. Чижик, В. С. Сякерский [и др.] // Приборостроение-2008 : материалы 1-й Международной научно-технической конференции, 12-14 ноября 2008 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, ...2026-03-16 -
Новый метод организации высокоточных электронных устройств измерения и учета расхода жидкостей и газов
Зуйков, И. Е.; Пась, Н. С.; Сякерский, В. С.; Русакевич, Д. А. (БНТУ, 2009)Зуйков, И. Е. Новый метод организации высокоточных электронных устройств измерения и учета расхода жидкостей и газов / И. Е. Зуйков [и др.] // Вестник Белорусского национального технического университета : научно-технический журнал. – 2009. – № 6. – С. 29-34.2012-04-18 -
Температурно-зависимая модель ионно-легированных резисторов субмикронных биполярных БИС
Белоус, А. И.; Зуйков, И. Е.; Сякерский, В. С.; Русакевич, Д. А. (БНТУ, 2012)Температурно-зависимая модель ионно-легированных резисторов субмикронных биполярных БИС / А. И. Белоус [и др.] // Наука и техника: международный научно-технический журнал. - 2012. - N 2. - С. 24-28.2012-05-29


