Now showing items 1-4 of 4

    • Анализ критериев качества в растровых системах объемного изображения 

      Артюхина, Н. К.; Зайцева, Е. Г.; Михаленок, Е. В. (БНТУ, 2007)
      Артюхина, Н. К. Анализ критериев качества в растровых системах объемного изображения / Н. К. Артюхина, Е. Г. Зайцева, Е. В. Михаленок // Наука - образованию, производству, экономике : материалы Пятой международной научно-технической конференции : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: Б. М. Хрусталев, Ф. А. Романюк, А. С. Калиниченко. – Минск : БНТУ, ...
      2021-11-08
    • Интерферометр для контроля крупногабаритной оптики 

      Самусенко, А. А.; Артюхина, Н. К.; Михаленок, Е. В. (БНТУ, 2016)
      Самусенко, А. А. Интерферометр для контроля крупногабаритной оптики / А. А. Самусенко, Н. К. Артюхина, Е. В. Михаленок // Новые направления развития приборостроения : материалы 9-й международной научно-технической конференции молодых ученых и студентов, Минск, 20–22 апреля 2016 г. : в 2 т. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, ...
      2016-09-22
    • Исследование влияния состава полировальной суспензии на процесс химико-механического полирования подложек SiC 

      Корякин, С. В.; Михаленок, Е. В.; Дубовик, И. Н.; Гайко, М. И.; Серокурова, А. И. (Интегралполиграф, 2024)
      В работе рассмотрен вопрос влияния состава полировальной суспензии на ХМП поверхности пластин 4H-SiC. Показано, что использование сильных окислителей в составе коллоидной суспензии позволяют увеличить эффективность обработки и улучшения качество обработки поверхности пластин 4H-SiC.
      2025-02-05
    • Малогабаритный лазерный интерферометр 

      Пашевич, Ю. А.; Михаленок, Е. В. (БНТУ, 2009)
      Пашевич, Ю. А. Малогабаритный лазерный интерферометр / Ю. А. Пашевич, Е. В. Михаленок // Приборостроение-2009 : материалы 2-й Международной научно-технической конференции, 11-13 ноября 2009 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2009. – С. 93-95.
      2026-03-13