Browsing by Author "Марковская, А. В."
Now showing items 1-1 of 1
-
Элементарный анализ покрытий и тонких слоев металлов методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии
Ермалицкая, К. Ф.; Щерба, У. К.; Марковская, А. В. (БНТУ, 2025)При проведении элементарного анализа образцов с малыми концентрациями исследуемого вещества, например, покрытий и тонких слоев металлов, наиболее интенсивными в спектре оказываются резонансные линии, для которых характерно явление самопоглощения, выраженного в провале интенсивности спектрального пика. Провал спектрального пика делает невозможным определения точного значения ...2026-01-14
