Целью исследования являлась разработка универсального цифрового измерителя контактной разности потенциалов и поверхностной фото-ЭДС, предназначенного для оценки качества прецизионных поверхностей (полупроводниковых пластин и диэлектриков), а также измерения количественных характеристик бесконтактным методом. Метод проведения работы: компьютерное моделирование, натурный эксперимент. ...