Browsing by Author "Жигулин, Д. В."
Now showing items 1-5 of 5
-
Исследование границы раздела алюминий-поликремний после воздействия длительного и быстрого термических отжигов методом энергодисперсионного рентгеновского микроанализа
Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Жигулин, Д. В.; Шестовский, Д. В. (БНТУ, 2023)Приведены результаты исследования границы раздела алюминий-поликремний после воздействия длительного и быстрого термических отжигов методом энергодисперсионного рентгеновского микроанализа. Установлено, что при термическом отжиге (450 оС, 20 мин) поликремний полностью растворяется в алюминии с последующей его сегрегацией в виде отдельных агломератов в пленке алюминия. При быстром ...2023-12-21 -
МОП-структуры с пленками оксида диспрозия и наноточками кремния Me-DyxOy-Si-DyxOy-Si для элементов памяти
Бабушкина, Н. В.; Малышев, С. А.; Жигулин, Д. В.; Романова, Л. И. (БНТУ, 2012)МОП-структуры с пленками оксида диспрозия и наноточками кремния Me-DyxOy-Si-DyxOy-Si для элементов памяти / Н. В. Бабушкина, С. А. Малышев, Д. В. Жигулин, Л. И. Романова // Приборостроение-2012 : материалы 5-й Международной научно-технической конференции, 21–23 ноября 2012 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – ...2026-03-11 -
Применение вторично-ионной масс-спектрометрии для исследования взаимодействия алюминиевой металлизации с поликристаллическим кремнием после быстрого и длительного термического отжига
Пилипенко, В. А.; Анищик, В. М.; Понарядов, В. В.; Жигулин, Д. В.; Шестовский, Д. В. (БНТУ, 2025)Метод вторично-ионной масс-спектрометрии является одним из основных методов по изучению элементного, химического и изотопного состава вещества. Благодаря своей высокой чувствительности он нашел широкое применение в микроэлектронике по изучению диффузионных явлений в тонких (от 1 нм) пленках полупроводниковых изделий. Данный метод позволяет определять концентацию легирующей примеси, ...2026-01-14 -
Свойства композита на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена
Адашкевич, С. В.; Бакаев, А. Г.; Жигулин, Д. В.; Маркевич, М. И.; Стельмах, В. Ф.; Чапланов, А. М.; Щербакова, Е. Н. (БНТУ, 2016)Свойства композита на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена / С. В. Адашкевич [и др.] // Приборостроение-2016 : материалы 9-й международной научно-технической конференции, Минск, 23-25 ноября 2016 г. / Белорусский национальный технический университет ; редкол.: О. К. Гусев [и др.]. – Минск, 2016. – С. 246-247.2017-03-23 -
Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-поликремний после воздействия длительного и быстрого термических отжигов
Пилипенко, В. А.; Ковальчук, Н. С.; Шестовский, Д. В.; Жигулин, Д. В. (БНТУ, 2024)Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ является одним из основных методов по определению элементного состава вещества. Обладая высокой локальностью и относительно малой глубиной проникновения электронного луча (< 1 мкм), данный метод нашёл широкое применение в области микроэлектроники, как основной метод анализа элементного состава вещества. Метод позволяет исследовать ...2024-07-16




