Now showing items 1-2 of 2

    • Комплекс для элементного анализа приповерхностных слоев твердотельных материалов с нанометровым разрешением по глубине 

      Камышан, А. С.; Комаров, Ф. Ф.; Данилевич, В. В.; Гришан, П. А. (БНТУ, 2010)
      Разработан и изготовлен измерительный комплекс, предназначенный для количественного анализа содержания и распределения по глубине примесных атомов в приповерхностных слоях кристаллов и тонких пленок методом регистрации энергетических спектров ионов, испытавших резерфордовское рассеяние на углы более π/2. В основу конструкции комплекса заложен модульно-блочный принцип. В состав ...
      2012-03-23
    • Комплекс для элементного анализа твердотельных материалов 

      Комаров, Ф. Ф.; Данилевич, В. В.; Камышан, А. С.; Лагутин, А. Е (БНТУ, 2008)
      Комплекс для элементного анализа твердотельных материалов / Ф. Ф. Комаров, В. В. Данилевич, А. С. Камышан, А. Е. Лагутин // Приборостроение-2008 : материалы 1-й Международной научно-технической конференции, 12-14 ноября 2008 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: О. К. Гусев (пред.), Е. В. Гурина, Д. С. Доманевский [и др.]. – Минск : БНТУ, 2008. – С. 30-31.
      2026-03-16