Browsing by Author "Возная, В. И."
Now showing items 1-7 of 7
-
Автоматический анализ неметаллических включений в стали с помощью электронного микроскопа с энергодисперсионным микроанализатором
Сидоренко, Т. И.; Возная, В. И.; Белаш, Ю. С.; Ермаченок, Е. В. (БНТУ, 2022)Чистота стали по неметаллическим включениям оказывает существенное влияние на физико-механические и технологические свойства металла и, следовательно, на качество конечной продукции. Существует множество методов выявления и оценки неметаллических включений. Традиционными методами оценки загрязненности металла микровключениями являются металлографические методы, которые разделяют ...2022-03-09 -
Выявление природы поверхностных дефектов металлопроката стана 370/150 ОАО «БМЗ – управляющая компания холдинга «БМК»
Сидоренко, Т. И.; Возная, В. И.; Шаповалова, Л. И. (БНТУ, 2017)В работе представлено исследование развития поверхностных дефектов в технологической цепочке производства сортового проката с целью установления их природы, определения точного места зарождения и устранения причин образования.2018-03-20 -
Выявление причин несоответствия механических свойств в деталях из борсодержащей стали
Сидоренко, Т. И.; Возная, В. И.; Радионов, А. В. (БНТУ, 2021)Большое распространение в качестве деталей машин, конструкций и механизмов получили крепежные изделия. В качестве материала в производстве используют среднеуглеродистые легированные стали и легированные борсодержащие стали. Борсодержащие стали имеют хорошее сочетание прочностных и пластических свойств, а также высокий уровень прокаливаемости. В данной статье описаны исследовательские ...2021-03-23 -
Дефекты латунного покрытия и их влияние на качество тонкой латунированной проволоки
Борисовец, И. В.; Возная, В. И.; Сахарная, А. А. (БНТУ, 2013)Показано влияние дефектов латунного покрытия на качество тонкой латунированной проволоки, произведенной в условиях сталепроволочных цехов Белорусского металлургического завода.2014-12-24 -
Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия
Куренкова, Т. П.; Возная, В. И. (БНТУ, 2012)В данной работе предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне основных параметров.2014-06-12 -
Применение растрового электронного микроскопа, оснащенного системой микроанализа для исследования качества латунного покрытия
Куренкова, Т. П.; Возная, В. И. (БНТУ, 2010)Предложен новый метод электронно-микроскопического наблюдения и микрорентгеноспектрального анализа латунированной заготовки, который позволяет проводить детальные исследования на микроуровне различных параметров.2014-06-25 -
Совершенствование технологического процесса производства подшипниковых марок стали на стане 370/150
Путеев, В. С.; Савченко, С. А.; Панковец, И. А.; Возная, В. И.; Астапенко, И. В. (БНТУ, 2021)Рассмотрена актуальная проблема получения сортового проката из подшипниковых марок стали с заданными характеристиками по микроструктуре. Проведен анализ возможностей имеющегося оборудования – нагревательной печи и прокатного стана 370/150 ОАО «БМЗ – управляющая компания холдинга «БМК» с целью внедрения технических мероприятий, направленных на снижение карбидной неоднородности в ...2021-09-10