Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии
Loading...
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Abstract
item.page.description-other
Description
Citation
Маркевич, М. И. Исследование тонкопленочной системы Si-Fe-Si после отжига в вакууме методом атомно-силовой микроскопии / М. И. Маркевич, Е. Н. Щербакова // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 16-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2018. - Т. 3. - С. 179.