Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств
Loading...
Files
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Abstract
item.page.description-other
Description
Citation
Пантелеев, К. В. Методические основы неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных устройств / К. В. Пантелеев, А. К. Тявловский // Наука – образованию, производству, экономике : материалы 14-й Международной научно-технической конференции. - Минск : БНТУ, 2016. - Т. 2. - С. 208.