Анализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсации
| dc.contributor.author | Тявловский, А. К. | ru |
| dc.contributor.author | Жарин, А. Л. | ru |
| dc.coverage.spatial | Минск | ru |
| dc.date | 2011 | ru |
| dc.date.accessioned | 2012-03-28T07:36:15Z | |
| dc.date.available | 2012-03-28T07:36:15Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.description.abstract | Проведен сравнительный анализ динамических зондовых методов измерения поверхностного потенциала. Показано, что для бесконтактных измерений поверхностного потенциала диэлектриков в широком диапазоне значений оптимальным является использование схемы с токовой компенсацией. Преимуществами данной схемы являются высокое пространственное разрешение, широкий диапазон измерений поверхностного потенциала, независимость измерительного сигнала от расстояния между зондом и исследуемой поверхностью в пределах определенного диапазона расстояний. Проанализированы метрологические характеристики предлагаемой схемы и получена расчетная формула для определения предела приведенной методической погрешности измерения.(E-mail: andrey_psf@tut.by) | ru |
| dc.identifier.citation | Тявловский, А. К. Анализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсации / А. К. Тявловский, А. Л. Жарин // Приборы и методы измерений : научно-технический журнал = Devices and methods of measurements : Scientific and Engineering Journal / гл. ред. Романюк Ф.А. ; кол. авт. Министерство образования Республики Беларусь ; кол. авт. Белорусский национальный технический университет. – Минск : БНТУ, 2011. – №2(3). – С.136–144. | ru |
| dc.identifier.uri | https://rep.bntu.by/handle/data/1910 | |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | БНТУ | ru |
| dc.title | Анализ метода измерения поверхностного потенциала диэлектриков по схеме токовой компенсации | ru |
| dc.type | Article | ru |