Структурные исследования пленок теллурида кадмия, выращенных на подложках монокристаллического теллурида кадмия и кремния
Loading...
Files
Authors
item.page.other-contributor
item.page.advisors
item.page.editors
Date
Publisher
item.page.issn
item.page.isbn
item.page.depon
item.page.diss
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
item.page.title-alternative
Abstract
The results of atomic-fource and scan electron microscopy of cadmium telluride films prepared on silicon and cadmium telluride substrates by means of sputtering in cvasi-closed volume are presented. It is shown that roughnes of the films change in the range 34 – 87 nm with mean grain size ranging in the interval 2.5 – 5 μm.
item.page.description-other
Description
Citation
Головчук, В. И. Структурные исследования пленок теллурида кадмия, выращенных на подложках монокристаллического теллурида кадмия и кремния / В. И. Головчук // Новые горизонты - 2016 : сборник материалов III Белорусско-Китайского молодежного инновационного форума, 29–30 ноября 2016 года. – Минск : БНТУ, 2016. – С. 184-185.